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Atomkraft-Mikrosoppe für die Probenoberflächenbeobachtung

Vergrößerung: 500-1000X
Art: Atomkraftmikroskop
Anzahl von Zylinder: No
Mobilität: Desktop
Stereoskopischen Effekt: Ohne stereoskopischen Effekt
Art der Lichtquelle: Laser

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Diamond-Mitglied Seit 2015

Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen

Bewertung: 5.0/5
Hersteller/Werk, Handelsunternehmen, Konzerngesellschaft

Grundlegende Informationen.

Modell Nr.
AFM1000
Form
Ball, Hemisphere
Verwendung
Forschung
Prinzip
Optik
Prinzip der Optik
Laser Detection
Element
Atomkraftmikroskop
Betriebsmodi
Kontaktmodus, Gewindebohrmodus, Phase, Reibung, mfm,
Probengröße
Durchmesser≤90 mm;h≤20 mm
Max. Scanbereich
X/y: 50 um, z: 5 um
Auflösung
X/y: 0,2 nm, z: 0,05nm
Probenbewegung
0~20 mm
Scanrate
0,6 hz~4,34 hz
Scansteuerung
xy: 18-Bit d/a, z: 16-Bit d/a
Transportpaket
1 Set/Sets
Spezifikation
ISO
Warenzeichen
NANBEI
Herkunft
Henan, China (Mainland)
HS-Code
9012100000
Produktionskapazität
500 Set/Sets a Month

Produktbeschreibung

Atomkraft-Mikrosoppe für die Beobachtung der Probenoberfläche

All-in-one-Design, intelligente Struktur und Form. Scan-Kopf und Probenbühne sind zusammen, starke Anti-Vibrations-Leistung konzipiert. Präzisions-Laserdetektion und Sondenausrichtung Gerät machen Laserjustierung einfach und einfach. Anpassen Servomotor, um die Probe nähert Spitze manuell oder automatisch zu fahren, Um präzise Scan-Bereich Positionierung zu realisieren. Hochgenaue und große Reichweite Probentransfergerät ermöglichen, jeden interessanten Bereich der Probe scannen; Verschiedene Arten von Scanner erfüllt verschiedene Kundenanforderungen in Genauigkeit und Scan-Größe; Optisches Beobachtungssystem für Spitze überprüfen und Probe Positionierung. CCD Beobachtungssystem für Echtzeit-Probenbereich Beobachtung und Position; Einsatz Servomotor CCD Auto-Focusing erreichen Elektronisches System ist als modular und einfach für Wartung und Entwicklung konzipiert. Integriert mit vielen Arbeitsmodi Steuerelektronik für die Weiterentwicklung.
 
I: MERKMALE
  Integrierte Scan-Sonde und Probe erhöht die Anti-Interferenz-Fähigkeit.
2    Präzisionslaser und Sondenpositionierungsgerät machen den Wechsel der Sonde und die Einstellung des Punktes einfach und bequem.
3.   Durch  Die Verwendung  Der Probe  Probe Probe Probe  Nähert  Art und Weise, könnte die Nadel    Senkrecht zu derProbenmessung  .              
4.     Automaticpulse Motorantrieb Steuerung Probe Sonde vertikal nähern, um präzise Positionierung des Scanbereichs zu erreichen.
5.     Samplescanning Bereich von Interesse konnte frei bewegt werden, indem das Design von hochpräzisen Probe mobilen Gerät.
6.     CCDBeobachtungssystem mit optischer Positionierung erreicht Echtzeit-Beobachtung und Positionierung der Probe Probe Scan-Bereich.
7.     Das Design des elektronischen Steuersystems der Modularisierung erleichterte Wartung und kontinuierliche Verbesserung der Schaltung.
8.     Die Integration von mehreren Scan-Modus-Steuerkreis, kooperieren mit Softwaresystem.
9.       Federaufhängung, die einfach und praktisch verbesserte Anti-Interferenz-Fähigkeit.

 
 
Technische    Hauptparameter:
Arbeitsmodus FM-Klopfen, optionaler Kontakt, Reibung, Phase, magnetisch oder elektrostatisch
Größe φ≤90mm, H≤20mm
Scanningrange 20  Mmin XYRichtung, 2  Mm in Z-Richtung.
Scanauflösung 0, 2nm in XY-Richtung, 0, 05nm in Z-Richtung.
Movementrange der Probe ±6, 5mm.
Impulsbreite des Motors  Nähert sich 10±2ms
Bildabtastpunkt     256×256.512×512
  Optische Vergrößerung 4X OptikalAuflösung 2, 5  Mm.
Scanrate 0, 6Hz~4, 34Hz Scanwinkel 0~360 Grad
Scanningcontrol 18-Bit D/A in XY-Richtung, 16-Bit D/A in Z-Richtung.
Datenampling 14-Bit/D, double16-Bit A/D, mehrkanalige synchrone Abtastung.
Feedback DSP-Digitalfeedback
FeedbackSampling-Rate 64, 0KHz.
Computerschnittstelle USB2, 0
Operatingenvironment Windows98/2000/XP/7/8.

Atomic Force Microsocpe for Sample Surface Observation

FAQ  
   

1.   Wie kann  Ich  Das passende auswählen?
Sehr geehrter Kunde, bitte teilen Sie uns Ihre detaillierten Anforderungen per Post oder online mit, wir empfehlen Ihnen gerne den passenden als Ihre Anfrage.
2.   Ist Ihr Preis wettbewerbsfähig?
Sehr geehrter Kunde,   Wir stellen sicher, Ihnen die beste Qualität zu einem wettbewerbsfähigen Preis zu bieten.
3.   Wie kann  Ich  Bezahlen?
Sehr geehrter Kunde,   Wir akzeptieren viele Zahlungsbedingungen, wie T / T, Western Union…
4.   Wann  Erhalte ich  Es nach Bezahlung?
Sehr geehrter Kunde,   Normale Modelle können mit 5-7days geliefert werden, kontaktieren Sie    Uns bitte, um die Transportzeit zu Ihrer Adresse zu überprüfen.
5.   Wie liefern?
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6.   Wird während des Transports gebrochen?
Sehr geehrter Kunde,   Bitte keine Sorge, wir Standard-Export-Paket.
7.   Was soll  Ich  Tun, wenn  Ich  Nicht weiß, wie ich es verwende?
Sehr geehrter Kunde,   Bitte keine Sorge, manuelle Benutzer zusammen gesendet werden, können Sie uns auch mit mehr technologischer Unterstützung kontaktieren.
8.   Was soll  Ich  Tun, wenn Teile kaputt sind?
Sehr geehrter Kunde,   Bitte keine Sorge, wir haben 12months Garantie außer  Verschleißteile. Sie können auch Teile von uns nach 12months kaufen.

Firmenschau:
Atomic Force Microsocpe for Sample Surface Observation


Werkschau:

Professioneller Hersteller von Laborgeräten mit 11 Jahren Erfahrung.
Die Exporterfahrung beträgt 8 Jahre.
Versand: 5days per Kurier, Tür zu Tür Service

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Zertifizierung:

Das Unternehmen hat verschiedene internationale Standards und Standards wie SGS, CE, ISO.
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Garantie und Kundendienst

♥♥Wir Liefern 1 Jahre Garantie Und Lebenslange Kostenlose Technische Führung Und Ausbildung♥♥

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