EDX8600H Röntgenfluoreszenzspektrometer
EDX8600H Absorbiert alle Vorteile der EDX-Serie und ist zusätzlich mit einem Vakuumsystem ausgestattet, so dass es den Prüfumfang erweitert, die Nachweisgrenze verbessert und die Datenstabilität erhöht.
Produktmerkmale
1. Der aus Amerika importierte Silizium-Zugdetektor mit höherer Energieauflösung verbessert die Detektion weitgehend.
2. Grenze der Lichtelemente, die 100-mal höher als die des Si-Pin-Detektors ist. Der Messbereich ist breiter, was die Anforderungen an die Elementanalyse aller herkömmlichen Materialien fast erfüllen kann.
3. Datenintegration Verarbeitungssystem aus Amerika importiert macht Datenerfassung schneller, Messung stabiler mit ausgezeichneter Wiederholbarkeit und lange Zeit Stabilität.
4. Up-to-date Software, die mehrere Bildkomputering-Methoden integriert, macht die Datenmessung genauer und stabiler.
5. Software voll überwacht Kernteile laufen gewährleistet sicheren Betrieb.
6. Spezialisiertes Vakuumsystem bietet bessere Vakuumleistung und ausgezeichnete Prüfergebnisse.
Technische Parameter |
Analysierbare Elemente |
Na-U |
Analysierbarer Bereich |
1ppm-99, 99% |
Messzeit |
100-300s einstellbar |
RoHS-Grenzwert für schädliche Elemente |
CD/Pb/Cr/hg/Br/2ppm |
Energieauflösung |
149±5eV |
Temperatur |
15-30C |
Stromversorgung |
220V±5V Optionaler AC-Stabilisator empfohlen |