Fertigungstechnik: | Optoelektronische Semiconductor |
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Material: | Element Semiconductor |
Art: | N-Typ-Halbleiter |
Paket: | PGA (Pin Grid Array Package) |
Signalverarbeitung: | Analog Digital Composite und Funktion |
Anwendung: | Temperaturmessung |
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LISTE DER TESTS MIT HOHER ZUVERLÄSSIGKEIT | |||
Nummer |
Elemente Testen |
Experimentmethode Und Bedingungen |
Referenz |
1 | Lötwiderstand |
260ºC+5ºC für 10+2sec. Gehäuse in Lot 1/16" + 1/32" eintauchen |
MIL-STD-750D METHODE-2031, 2 |
2 | Lötbarkeit |
230ºC+5ºC für 5 Sek. | MIL-STD-750D METHODE-2026, 10 |
3 | Zugtest |
1kg in axialer Ableitungsrichtung für 10 Sek. | MIL-STD-750D METHODE-2036, 4 |
4 | Biegeprüfung |
0, 5kg Gewicht, das auf jede Ableitung angewendet wird Biegebögen 90 ±5ºC für drei Mal |
MIL-STD-750D METHODE-2036, 4 |
5 | Hohe Temperatur Test Der Umgekehrten Vorspannung |
TA=100ºC für 1000 Stunden bei VR=80% Nennwert VR | MIL-STD-750D METHODE-1038, 4 |
6 | Lebensdauertest Für Vorwärtsbetrieb |
TA=25ºC Nennstrom mit gleichgerichteten Nennstrom 500 Stunden lang |
MIL-STD-750D METHODE-1027, 3 |
7 | Lebensdauer Bei Intermittierendem Betrieb |
Ein-Zustand: 5 min Tj=125ºC-175ºC mit Nennleistung IRMS. Aus-Zustand: 5 min Tj=TA+15ºC mit Kühle Zwangsluft. Ein und aus für 1000 Zyklen. |
MIL-STD-750D METHODE-1036, 3 |
8 | Schnellkochtopf |
15 PSIG, TA=121ºC, 24HRS | MIL-STD-750D |
9 | Temperaturregelung |
-55ºC/+125ºC 30 Minuten für die Zeit 5 Minuten Für Die Übertragene Zeit. Insgesamt 10 Zyklen. |
MIL-STD-750D METHODE-1051, 7 |
10 | Thermoschock |
0ºC für 5 min, 100ºC für 5min, insgesamt 10 Zyklen | MIL-STD-750D METHODE-1056, 7 |
11 | Vorwärtsflutung |
8, 3 ms Single Hale Sinuswelle überlagert Bei Nennlast Eine Überspannung. |
MIL-STD-750D METHODE-4066, 4 |
12 | Feuchtigkeitstest |
TA=65ºC, RH=98% für 1000hrs. | MIL-STD-750D METHODE-1021, 3 |
13 | Lagerdauer Bei Hohen Temperaturen |
150ºC für 1000 Stunden | MIL-STD-750D METHODE-1031, 5 |
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