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Mikroskop zur Waferinspektion (2003XJ)

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Grundlegende Informationen.

Modell Nr.
2003XJ

Produktbeschreibung

1 Optisches System: Infinity-Optisches System und seine EPI-Strahler2 Tube Lens Fokussierabstand: F' =200mm3 Hell/Dark Field Plan Semi-APO Objektive, parfocus 45mm: 5x/0, 1, 10x/0, 25, 20x/0, 40, 40x/0, 65, 60x/0, 85(APO)4 Optionaler Hell/Dunkel-Feldplan APO-Objektive 100x/0, 9 (trocken), 150x/1, 25 (Wasser)5 Okular: ESWF10X/25mm hoher Augenpunkt6 Stufe: Groß Er mechanischer Stufe mit Glasplatte(Grö ß E: 200 x 180mm) und Bewegungsbereich 156mm x 150mm) 7 EPI Strahler: 12V/50W Halogenlampe mit Feldmembran & Irisblende, mit Polarisator & Analysator8 Koaxiales Grob-/Feinfokussiersystem mit koaxialem Grobfokus Bewegungsbereich 45mm9 Kompensation binokularer und trinokularer Kopf (Neigung 30 Grad). Der Innendurchmesser des Okularrohrs beträ Gt 30mm10 Nasenstü Ck: Fü Nffache, Gewinde des Objektivs ist M27 x 0, 7511 Optionale Durchlichtquelle mit Kollektorlinse und abbe-Kondensatorwird verfü Gbar sein 12 Auß Enmaß Des Mikroskops: 540x360x458mm (LxBxH)13 Stromversorgung 220V oder 110V

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