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BestScope BSEM-320A Wolfram Filament Scanning Electron Mikroskop

Magnification: 300000x-1000000x
Type: Electron Microscope
Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
Usage: Teaching, Research
Principle: Electronic
Electron Optical System: Pre-aligned Medium-sized Hairpin-type Tungsten Fil

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Diamond-Mitglied Seit 2023

Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen

Hersteller/Werk

Grundlegende Informationen.

Modell Nr.
BSEM-320A
Bildgebungssystem
Everhart-Thornley Detector (ETD)
Hochvakuum
better than 5*10-4Pa
Steuerungsmodus
Vollautomatisch
Specimen Table
Three Axis Automatic
Stage Range
X: 120mm. Y: 115mm. Z: 50mm
Transportpaket
Strong Carton with Polyfoam Protection
Warenzeichen
BestScope
Herkunft
China
Produktionskapazität
1000 Sets Per Month

Produktbeschreibung

BestScope BSEM-320A Tungsten Filament Scanning Electron Microscope

Einführung

BSEM-320A ist ein Hochleistungs-Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt über hervorragende Bildqualität sowohl im hoch- als auch im Niedrigvakuum-Modus. Es verfügt außerdem über eine große Schärfentiefe und eine benutzerfreundliche Oberfläche, mit der die Benutzer Proben charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse erkunden können.

Funktion

1. Niederspannung
Kohlenstoffmaterial Proben mit geringer Eindringtiefe bei niedriger Spannung. Die wahre Topographie der Probenoberfläche kann mit reichen Details gewonnen werden.
Die Strahlenschäden des Elektronenstrahls der Haarprobe werden bei niedriger Spannung reduziert, während der Ladeeffekt eliminiert wird.
2. Erweiterbarkeit
BSEM-320 hat eine große Probenkammer mit einer umfangreichen Schnittstelle: SEM SE\BSE\EDS\EDX\EBSD, etc.
3. Großes Sichtfeld
Biologische Proben können mit Hilfe einer großen Sichtfeldossierung leicht die morphologischen Details des Kopfes eines Marienkäfer erfassen und so die Fähigkeit zur skalenübergreifenden Bildgebung demonstrieren.
4. Optische Navigation
Schnelle Ortung des Zielbereichs (ROI). Klicken Sie auf die gewünschte Stelle, und sehen Sie sie mit der einfachen Navigation. Eine Kamera in der Kammer ist Standard und kann HD-Fotos aufnehmen, um Proben schnell zu finden.
5. Schnelle Gestennavigation
Schnelle Navigation durch Doppelklick zum Verschieben, mittlere Maustaste zum Ziehen und Rahmen zum Zoomen.
Exp: Frame Zoom - um eine große Ansicht der Probe mit geringer Vergrößerung Navigation zu erhalten, können Sie schnell den Probenbereich, die Sie interessiert sind, Rahmen, Bild vergrößert automatisch, um die Effizienz zu verbessern.
6. Intelligenz Assistierte Bild Astigmatismus Korrektur
Visuelles Anzeigen des Astigmatismus innerhalb des gesamten Sichtfeldes und schnelle Anpassung durch Mausklick.
7. Autofokus
Fokus auf Knopfdruck für schnelle Bildgebung.
8. Automatischer Stigmator
Ein-Klick-Astigmatismus Abzug zur Verbesserung der Arbeitseffizienz.
9. Auto Helligkeit & Kontrast
Automatische Helligkeit und Kontrast mit einem Klick, um die Graustufen der entsprechenden Bilder anzupassen.
10. Gemischte Bildgebung (SE + BSE)
Die Zusammensetzung der Probe und die topografischen Informationen der Oberfläche in einem Bild beobachten. Die Software unterstützt den Wechsel zwischen SE und BSE mit einem Klick für die gemischte Bildgebung. Sowohl morphologische als auch kompositorische Informationen der Probe können gleichzeitig beobachtet werden.
11. Schnelle Anpassung Der Bilddrehung
Ziehen Sie eine Linie und lassen Sie sie los, um das Bild rechts auf der Stelle zu drehen.
12. Stufe Anti-Kollisionen
Eine multifunktionale Lösung zur Kollisionsschutz:
Manuelle Eingabe der Probenhöhe: Präzise Kontrolle des Abstands zwischen der Probenoberfläche und der Objektivlinse.
Bilderkennung und Bewegungserfassung: Überwachen Sie die Bewegung der Echtzeitstufe.
Hardware: Schalten Sie den Bühnenmotor im Moment der Kollision ab. (BSEM-320A erfordert diese Funktion als optionale Funktion)
13. Doppelanode (Tetrode)
Das Design des Dual-Anode-Emissionssystems bietet eine ausgezeichnete Auflösung bei geringer Landeenergie.
14. Niedriger Vakuummodus
Liefert Informationen zur Morphologie der Probenoberfläche bei niedrigem Vakuum, schaltbarer Vakuumzustand mit einem Klick.
Gefilterte Faserrohrmaterialien sind schlecht leitfähig und laden sich bei hohem Vakuum deutlich auf. Im niedrigen Vakuum kann die direkte Beobachtung nicht leitender Proben ohne Beschichtung erreicht werden.

Anwendung

1. Halbleiter und elektronische Bauteile.
2. Batterien und neue Energie.
3. Polymermaterialien.
4. Chemikalien.
5. ETD-Metall.
6. Biologisch.
7. Grundlagenforschung.

Spezifikation

BestScope BSEM-320A Tungsten Filament Scanning Electron Microscope
Hinweis: * Standard-Outfits, ○ Optional.

Beispielbild

BestScope BSEM-320A Tungsten Filament Scanning Electron Microscope
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