• Effizientes Labor-Scanning-Atomkraftmikroskop
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Effizientes Labor-Scanning-Atomkraftmikroskop

After-sales Service: 1 Year
Warranty: 1 Year
Magnification: >1000X
Type: Video
Number of Cylinder: Binoculars
Mobility: Desktop

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Gold Mitglied Seit 2016

Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen

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Überblick

Grundlegende Informationen.

Modell Nr.
FM-Nanoview TAPPING
Stereoscopic Effect
Stereoscopic Effect
Kind of Light Source
Ordinary Light
Shape
Single-lens
Usage
Teaching
Principle
Optics
Principle of Optics
Polarizing Microscope
Probengröße  
φ≤90mm,h≤20mm
Max. Scanbereich  
X/y: 20 um, z: 2 um
Auflösung
X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
Scanrate  
0,6hz~4,34hz
Feedback -Typ
dsp -Digitalfeedback  
pc -Verbindung
USB2,0
fenster
Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
 Scanwinkel
Zufällig
Probenbewegung  
0~20mm
Datenpunkte  
256×256.512×512
Transportpaket
Carton and Wooden
Spezifikation
55 lbs
Warenzeichen
flyingman
Herkunft
China
HS-Code
9011800090
Produktionskapazität
100pieces/Month

Produktbeschreibung

Das neue FM-Nanovview TAPPING High Cost-Efficiency Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Das fortschrittliche digitale Mikroskop ist ideal für effizientes Scannen im Labor und bietet hochwertige Bildgebung für professionelle Ausbildung und Forschung.

 
Produktbeschreibung






Produktbeschreibung



Funktionen



  1. Scankopf und Probenbühne wurden gemeinsam für starke Vibrationsdämpfung entwickelt Leistung

  2. Präzise Lasererkennung und Sondenausrichtvorrichtung für einfachen Laser Einstellung

  3. Servomotor-Antrieb für präzise Positionierung des Scanbereichs

  4. Hochgenaues und großes Probenübertragungsgerät für das Scannen von beliebigen Proben Interessengebiet

  5. Optisches Beobachtungssystem für die Spitzenprüfung und Probenpositionierung

  6. Modulares elektronisches System für einfache Wartung und Entwicklung

  7. Schwingungsisolierung für einfache und effektive Leistung



Software



  1. Zwei Sampling Pixel Optionen: 256×256, 512×512

  2. Funktion zum Verschieben und Schneiden des Scanbereichs zur Auswahl einer bestimmten Probe Bereiche

  3. Random-Winkel-Scan am Anfang

  4. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems

  5. Anpassbare Scanbildfarben in der Palette

  6. Unterstützung für lineare Durchschnitt- und Offsetkalibrierung

  7. Scanner-Empfindlichkeit und automatische Kalibrierung des elektronischen Controllers

  8. Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern



Hergestellt von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd.




  
Produktparameter

Technische Hauptparameter


Entdecken Sie die wichtigsten technischen Spezifikationen des effizienten Labor-Scanning-Atomkraftmikroskopes von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Element Technische Daten Element Technische Daten
Betriebsmodi   Kontaktmodus , Reibungsmodus , erweiterte Gewindebohrungsmodi  , Phase, MFM, EFM.  Scanwinkel Zufällig
Probengröße   φ≤90mm,H≤20mm Probenbewegung   0~20mm
Max. Scanbereich   X/Y: 20 um, Z: 2 um Impulsbreite  des sich nähernden Motors    10±2ms
Auflösung X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05nm Optisches System Vergrößerung: 4x, Auflösung: 2,5 um
Scanrate   0,6Hz~4,34Hz Datenpunkte   256×256.512×512
Scansteuerung   XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A Feedback -Typ DSP -Digitalfeedback  
Datenabtastung   Ein 14-Bit -A/D und ein doppelter 16-Bit -A/D -Mehrkanal gleichzeitig  
PC -Verbindung USB2,0 Rückmeldesignal    64,0KHz
Fenster Kompatibel mit Windows98/2000/XP/7/8



Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd


Gegründet 2013, haben wir uns der Herstellung von qualitativ hochwertigen Instrumenten für Labors und Fabriken verschrieben. Unser Flaggschiff ist das Atomic Force Microscope (AFM), das für die körperliche Ausbildung und Waferinspektion entwickelt wurde.


Hauptmerkmale:



  • Präzisionsmessgerät für genaue Messungen

  • Kostengünstige Lösung für verschiedene Anwendungen

  • Zuverlässige Leistung für konsistente Ergebnisse


Erleben Sie das beste Preis-Leistungsverhältnis AFM mit Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Und verbessern Sie Ihre Forschungs- und Inspektionsprozesse.


 
Detaillierte Fotos


Efficient Laboratory Scanning Atomic Force MicroscopeEfficient Laboratory Scanning Atomic Force MicroscopeEfficient Laboratory Scanning Atomic Force Microscope

 

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Exportjahr
2015-01-01
OEM/ODM-Verfügbarkeit
Yes