Hochauflösendes Mikroskop Für Studenten

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Vergrößerung: > 1000X
• Art: Video
• Anzahl von Zylinder: Fernglas
• Mobilität: Desktop
• Modell Nr.: FM-Nanoview TAPPING
• Stereoskopischen Effekt: Stereoscopic Effect
• Art der Lichtquelle: Gewöhnliches Licht
• Form: Einäugig
• Verwendung: Lehre
• Prinzip: Optik
• Prinzip der Optik: Polarisationsmikroskop
• Probengröße: φ≤90mm,h≤20mm
• Max. Scanbereich: X/y: 20 um, z: 2 um
• Auflösung: X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• Scanrate: 0,6hz~4,34hz
• Feedback -Typ: dsp -Digitalfeedback
• pc -Verbindung: USB2,0
• fenster: Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
• Scanwinkel: Zufällig
• Probenbewegung: 0~20mm
• Datenpunkte: 256×256.512×512
• Transportpaket: Carton and Wooden
• Spezifikation: 55 lbs
• Warenzeichen: flyingman
• Herkunft: China
• HS-Code: 9011800090
• Produktionskapazität: 100pieces/Month

Produktbeschreibung

Das FM-Nanovview TAPPING High Cost-Efficiency Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Ist ideal für den hochauflösenden Unterricht und den Einsatz für Studenten.

 

Produktbeschreibung

Produktbeschreibung

Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Funktionen:

1. Scankopf und Probenbühne wurden gemeinsam für eine starke Vibrationsdämpfung entwickelt.


2. Präzisionslasererkennung und Sondenausrichtvorrichtung für einfache Lasereinstellung.


3. Servomotor-gesteuerte Probennahmelinse für präzise Positionierung des Scanbereichs.


4. Hochgenaues und großes Probenübertragungsgerät für das Scannen beliebiger Untersuchungsbereiche.


5. Optisches Beobachtungssystem für die Spitzenprüfung und Probenpositionierung.


6. Modulares elektronisches System für einfache Wartung und Entwicklung.


7. Schwingungsisolierung für einfache und effektive Leistung.

Programme:

1. Zwei Sampling Pixel Optionen: 256×256, 512×512.


2. Funktion zum Verschieben und Ausschneiden des Scanbereichs zur Auswahl eines beliebigen Untersuchungsbereichs.


3. Random-Winkel-Scan am Anfang.


4. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems.


5. Palettenoptionen für Scanbilder in verschiedenen Farben.


6. Unterstützung für lineare Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit.


7. Scanner-Empfindlichkeit und automatische Kalibrierung des elektronischen Controllers.


8. Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern.

Entdecken Sie unser fortschrittliches Produkt für präzises Scannen und Analyse von Proben mit Leichtigkeit.

  

Produktparameter

Technische Hauptparameter

Entdecken Sie die technischen Spezifikationen des hochauflösenden Mikroskopinstruments für Lehrende von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Element	Technische Daten	Element	Technische Daten
Betriebsmodi	Kontaktmodus , Reibungsmodus , erweiterte Gewindebohrungsmodi  , Phase, MFM, EFM.	Scanwinkel	Zufällig
Probengröße	φ≤90mm,H≤20mm	Probenbewegung	0~20mm
Max. Scanbereich	X/Y: 20 um, Z: 2 um	Impulsbreite  des sich nähernden Motors	10±2ms
Auflösung	X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05nm	Optisches System	Vergrößerung: 4x, Auflösung: 2,5 um
Scanrate	0,6Hz~4,34Hz	Datenpunkte	256×256.512×512
Scansteuerung	XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A	Feedback -Typ	DSP -Digitalfeedback
Datenabtastung	Ein 14-Bit -A/D und ein doppelter 16-Bit -A/D -Mehrkanal gleichzeitig
PC -Verbindung	USB2,0	Rückmeldesignal	64,0KHz
Fenster	Kompatibel mit Windows98/2000/XP/7/8

Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Gegründet 2013, sind wir spezialisiert auf die Herstellung von hochwertigen Instrumenten für Labors und Fabriken. Unser Flaggschiff ist das Atomic Force Microscope (AFM), das für die körperliche Ausbildung und Waferinspektion entwickelt wurde.

Hauptmerkmale:

• Präzisionsmessgerät für genaue Messungen


• Kostengünstige Lösung für AFM-Technologie


• Verbessert Forschung und Analyse in verschiedenen Branchen

Erleben Sie das beste Preis-Leistungsverhältnis AFM mit Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Noch heute!

 

Detaillierte Fotos