Laborqualität AFM-System für Halbleiteranalyse

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Vergrößerung: > 1000X
• Art: Video
• Anzahl von Zylinder: Fernglas
• Mobilität: Desktop
• Modell Nr.: LS AFM
• Stereoskopischen Effekt: Stereoscopic Effect
• Art der Lichtquelle: Gewöhnliches Licht
• Form: Einäugig
• Verwendung: Lehre
• Prinzip: Optik
• Prinzip der Optik: Polarisationsmikroskop
• Probengröße: φ≤90mm,h≤20mm
• Max. Scanbereich: X/y: 20 um, z: 2 um
• Auflösung: X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• Scanrate: 0,6hz~4,34hz
• Feedback -Typ: dsp -Digitalfeedback
• pc -Verbindung: USB2,0
• fenster: Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
• Scanwinkel: Zufällig
• Probenbewegung: 0~20mm
• Datenpunkte: 256×256.512×512
• Transportpaket: Carton and Wooden
• Spezifikation: 55 lbs
• Warenzeichen: flyingman
• Herkunft: China
• HS-Code: 9011800090
• Produktionskapazität: 100pieces/Month

Produktbeschreibung

Produktname: Labor Grade AFM System für Halbleiteranalyse

Name der Firma: Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Keywords: Hochauflösendes Digitalmikroskop, fortschrittliches Lehrmikroskop, hochmodernes Laborinstrument, Präzisionshalbleiterinspektion, Materialanalyse in Forschungsqualität, Benutzerfreundliche Mikroskopschnittstelle, kostengünstige Halbleiteranalyse

Beschreibung: Entdecken Sie unser AFM-System für die Halbleiteranalyse, das hochauflösende Bildgebung und präzise Inspektion bietet. Ideal für Forschung und Bildung.

Produktbeschreibung

Funktionen Des Atomkraft-Mikroskopes

Funktionen

• Das erste großräumige industrielle Atomkraftmikroskop in China Kommerzielle Produktion erreichen


• Kann große Proben wie Wafer, ultragroße Gitter und optisches Glas testen


• Probenbühne mit starker Erweiterbarkeit für Kombination mehrerer Instrumente


• Automatisches Scannen mit einem Klick für schnelle und automatische Erkennung


• XYZ 3D-Bewegungsmessung mit stationärem Probenscan


• Design des Gantry-Scanners, Marmorsockel, Vakuumadsorptionsstufe


• Lösungen zur mechanischen Schwingungsdämpfung und Lärmschutz für reduziertes System Geräuschpegel


• Intelligente Nadeleinführmethode zur automatischen Erkennung von piezoelektrischer Keramik


• Scanner nonlinear Korrektur Benutzer-Editor für Nano-Charakterisierung und hoch Messgenauigkeit

Software

1. Zwei Sampling Pixel Optionen: 256×256, 512×512


2. Funktion zum Verschieben und Schneiden des Scanbereichs ausführen


3. Probe am Anfang in zufälligem Winkel scannen


4. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems


5. Wählen Sie eine andere Farbe für das Scanbild aus, und legen Sie sie in der Palette fest


6. Unterstützung der linearen Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit


7. Kalibrierung der Scannerempfindlichkeit und automatische Kalibrierung der elektronischen Steuerung


8. Unterstützung der Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern

Firmenname: Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

 
 

Produktparameter

Arbeitsmodus	Kontaktmodus, Tippmodus	Z-Hubtisch	Schrittmotor-Antriebssteuerung mit einer minimalen Schrittgröße von 10nm
Optionaler Modus	Reibungskraft/Seitenkraft, Amplitude/Phase, magnetische Kraft/elektrostatische Kraft	Z-Hubweg	20mm (optional 25mm)
Kraftspektrumkurve	F-Z-Kraftkurve, RMS-Z-Kurve	Optische Positionierung	10x optisches Objektiv
XYZ-Scanmethode	XYZ-Scans mit Sonde	Kamera	Digitaler CMOS mit 5 Megapixeln
XY-Scanbereich	Mehr als 100um×100um	Scanrate	0,6Hz~30Hz
Z-Scanwinkel	Größer als 10um	Scanwinkel	0~360 Grad
Scanauflösung	Horizontal 0,2nm, vertikal 0,05nm	Betriebsumgebung	Windows 10 Betriebssystem
XY Probenbühne	Schrittmotor-Antriebssteuerung, mit einer Bewegungsgenauigkeit von 1um	Kommunikationsschnittstelle	USB2,0/3,0
XY Shift-Bewegung	200×200mm (optional 300×300mm)	Instrumentenstruktur	Gantry-Scankopf, Marmorsockel
Probenladeplattform	Durchm. 200mm (optional 300mm)	Dämpfungsmethode	Luftschwimmende Stoßdämpfung Schallschutzabdeckung (Optionale aktive Stoßdämpfungsplattform)
Probengewicht	≤20kg

Technische Daten

• Unternehmen: Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd


• Baujahr: 2013


• Schwerpunkt: Instrumente für Labore und Fabriken

Produktbeschreibung

Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Hat sich seit 9 Jahren der Herstellung hochwertiger Instrumente verschrieben. Unser Atomic Force Microscope (AFM) ist sowohl für die körperliche Ausbildung als auch für die Wafer-Inspektion konzipiert. Mit dem besten Kostenverhältnis auf dem Markt bietet unser AFM eine unvergleichliche Präzision und Zuverlässigkeit.

 

Detaillierte Fotos