Nanovview Hocheffizientes Atomkraftmikroskop

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Vergrößerung: > 1000X
• Art: Video
• Anzahl von Zylinder: Fernglas
• Mobilität: Desktop
• Modell Nr.: FM-Nanoview TAPPING
• Stereoskopischen Effekt: Stereoscopic Effect
• Art der Lichtquelle: Gewöhnliches Licht
• Form: Einäugig
• Verwendung: Lehre
• Prinzip: Optik
• Prinzip der Optik: Polarisationsmikroskop
• Probengröße: φ≤90mm,h≤20mm
• Max. Scanbereich: X/y: 20 um, z: 2 um
• Auflösung: X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• Scanrate: 0,6hz~4,34hz
• Feedback -Typ: dsp -Digitalfeedback
• pc -Verbindung: USB2,0
• fenster: Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
• Scanwinkel: Zufällig
• Probenbewegung: 0~20mm
• Datenpunkte: 256×256.512×512
• Transportpaket: Carton and Wooden
• Spezifikation: 55 lbs
• Warenzeichen: flyingman
• Herkunft: China
• HS-Code: 9011800090
• Produktionskapazität: 100pieces/Month

Produktbeschreibung

Suzhou FlyingMan bietet das NanoView High-Efficiency Atomic Force Microscope, ein hochmodernes Instrument für präzises Scannen und hochauflösende Bildgebung. Ideal für den professionellen und pädagogischen Einsatz.

 

Produktbeschreibung

Produktbeschreibung

Funktionen

1. Scankopf und Probenbühne wurden gemeinsam für eine starke Vibrationsdämpfung entwickelt.


2. Präzisionslasererkennung und Sondenausrichtvorrichtung für einfache Lasereinstellung.


3. Servomotor-Antrieb für präzise Positionierung des Scanbereichs.


4. Hochgenaues Probenübertragungsgerät zum Scannen beliebiger Untersuchungsbereiche.


5. Optisches Beobachtungssystem für die Spitzenprüfung und Probenpositionierung.


6. Modulares elektronisches System für einfache Wartung und Entwicklung.


7. Schwingungsisolierung für einfache und effektive Leistung.

Software

1. Zwei Sampling Pixel Optionen: 256×256, 512×512.


2. Funktion zum Verschieben und Ausschneiden des Scanbereichs, Auswahl eines beliebigen Untersuchungsbereichs.


3. Random-Winkel-Scan am Anfang.


4. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems.


5. Palettenoptionen für verschiedene Scanbildfarben.


6. Unterstützung für lineare Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit.


7. Scanner-Empfindlichkeit und automatische Kalibrierung des elektronischen Controllers.


8. Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern.

Hergestellt von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd.

  

Produktparameter

Technische Hauptparameter

Entdecken Sie die wichtigsten technischen Spezifikationen des NanoView High-Efficiency Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Element	Technische Daten	Element	Technische Daten
Betriebsmodi	Kontaktmodus , Reibungsmodus , erweiterte Gewindebohrungsmodi  , Phase, MFM, EFM.	Scanwinkel	Zufällig
Probengröße	φ≤90mm,H≤20mm	Probenbewegung	0~20mm
Max. Scanbereich	X/Y: 20 um, Z: 2 um	Impulsbreite  des sich nähernden Motors	10±2ms
Auflösung	X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05nm	Optisches System	Vergrößerung: 4x, Auflösung: 2,5 um
Scanrate	0,6Hz~4,34Hz	Datenpunkte	256×256.512×512
Scansteuerung	XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A	Feedback -Typ	DSP -Digitalfeedback
Datenabtastung	Ein 14-Bit -A/D und ein doppelter 16-Bit -A/D -Mehrkanal gleichzeitig
PC -Verbindung	USB2,0	Rückmeldesignal	64,0KHz
Fenster	Kompatibel mit Windows98/2000/XP/7/8

Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Gegründet 2013, haben wir uns in den letzten 9 Jahren der Entwicklung hochwertiger Instrumente für Labore und Fabriken verschrieben. Unser Flaggschiff ist das Atomic Force Microscope (AFM), das sowohl für den Einsatz in Bildungseinrichtungen als auch für die Wafer-Inspektion konzipiert wurde.

Unser AFM bietet das beste Kostenverhältnis auf dem Markt und bietet unseren Kunden einen außergewöhnlichen Wert. Erleben Sie präzise und zuverlässige Messungen mit unserer Spitzentechnologie.

 

Detaillierte Fotos