Nanovview High Resolution Atomkraftmikroskop

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Magnification: >1000X
• Type: Video
• Number of Cylinder: Binoculars
• Mobility: Desktop
• Modell Nr.: FM-Nanoview TAPPING
• Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
• Kind of Light Source: Ordinary Light
• Shape: Single-lens
• Usage: Teaching
• Principle: Optics
• Principle of Optics: Polarizing Microscope
• Probengröße: φ≤90mm,h≤20mm
• Max. Scanbereich: X/y: 20 um, z: 2 um
• Auflösung: X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• Scanrate: 0,6hz~4,34hz
• Feedback -Typ: dsp -Digitalfeedback
• pc -Verbindung: USB2,0
• fenster: Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
• Scanwinkel: Zufällig
• Probenbewegung: 0~20mm
• Datenpunkte: 256×256.512×512
• Transportpaket: Carton and Wooden
• Spezifikation: 55 lbs
• Warenzeichen: flyingman
• Herkunft: China
• HS-Code: 9011800090
• Produktionskapazität: 100pieces/Month

Produktbeschreibung

Wir stellen vor: Das FM-Nanovview TAPPING High Cost-Efficiency Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Ideal für fortgeschrittene Forschung und professionelle wissenschaftliche Anwendungen.

 

Produktbeschreibung

Produktbeschreibung

Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Funktionen:

1. Scankopf und Probenbühne wurden gemeinsam für eine starke Vibrationsdämpfung entwickelt.


2. Präzisionslasererkennung und Sondenausrichtvorrichtung für einfache Lasereinstellung.


3. Servomotor-gesteuerte Probennahmelinse für präzise Positionierung des Scanbereichs.


4. Hochgenaues und großes Probenübertragungsgerät für das Scannen beliebiger Untersuchungsbereiche.


5. Optisches Beobachtungssystem für die Spitzenprüfung und Probenpositionierung.


6. Modulares elektronisches System für einfache Wartung und Entwicklung.


7. Schwingungsisolierung für einfache und effektive Leistung.

Programme:

1. Zwei Sampling Pixel Optionen: 256x256, 512x512.


2. Funktion zum Verschieben und Schneiden des Scanbereichs zur Auswahl bestimmter Probenbereiche.


3. Random-Winkel-Scan am Anfang.


4. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems.


5. Anpassbare Scanbildfarben in der Palette.


6. Unterstützung für lineare Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit.


7. Kalibrierung der Scannerempfindlichkeit und automatische Kalibrierung der elektronischen Steuerung.


8. Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern.

Kontaktieren Sie uns unter Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Für weitere Informationen zu unseren innovativen Produktangeboten.

  

Produktparameter

III Technische Hauptparameter

Entdecken Sie die technischen Spezifikationen des NanoView High Resolution Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

Element	Technische Daten	Element	Technische Daten
Betriebsmodi	Kontaktmodus , Reibungsmodus , erweiterte Gewindebohrungsmodi  , Phase, MFM, EFM.	Scanwinkel	Zufällig
Probengröße	φ≤90mm,H≤20mm	Probenbewegung	0~20mm
Max. Scanbereich	X/Y: 20 um, Z: 2 um	Impulsbreite  des sich nähernden Motors	10±2ms
Auflösung	X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05nm	Optisches System	Vergrößerung: 4x, Auflösung: 2,5 um
Scanrate	0,6Hz~4,34Hz	Datenpunkte	256×256.512×512
Scansteuerung	XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A	Feedback -Typ	DSP -Digitalfeedback
Datenabtastung	Ein 14-Bit -A/D und ein doppelter 16-Bit -A/D -Mehrkanal gleichzeitig
PC -Verbindung	USB2,0	Rückmeldesignal	64,0KHz
Fenster	Kompatibel mit Windows98/2000/XP/7/8

Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Wurde 2013 gegründet und ist auf die Entwicklung modernster Instrumente für Labors und Fabriken spezialisiert. Unser Flaggschiff ist das Atomic Force Mikroskop, das sowohl für Schulungszwecke als auch für die Wafer-Inspektion entwickelt wurde. Mit seiner überlegenen Qualität und Erschwinglichkeit bietet es das beste Kostenverhältnis auf dem Markt.

 

Detaillierte Fotos