Student-Freundliches Halbleiter-Wafer-Scanning-Mikroskop

• After-sales Service: 1 Year
• Warranty: 1 Year
• Magnification: >1000X
• Type: Video
• Number of Cylinder: Binoculars
• Mobility: Desktop
• Modell Nr.: LS AFM
• Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
• Kind of Light Source: Ordinary Light
• Shape: Single-lens
• Usage: Teaching
• Principle: Optics
• Principle of Optics: Polarizing Microscope
• Probengröße: φ≤90mm,h≤20mm
• Max. Scanbereich: X/y: 20 um, z: 2 um
• Auflösung: X/y:160;0,2 nm, z: 0,05nm
• Scanrate: 0,6hz~4,34hz
• Feedback -Typ: dsp -Digitalfeedback
• pc -Verbindung: USB2,0
• fenster: Kompatibel mit Windows98/2000/xp/7/8
• Scanwinkel: Zufällig
• Probenbewegung: 0~20mm
• Datenpunkte: 256×256.512×512
• Transportpaket: Carton and Wooden
• Spezifikation: 55 lbs
• Warenzeichen: flyingman
• Herkunft: China
• HS-Code: 9011800090
• Produktionskapazität: 100pieces/Month

Produktbeschreibung

Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Bietet ein Student-Friendly Semiconductor Wafer Scanning Microscope für Bildungszwecke an. Ideal für die Halbleiteranalyse und den Einsatz im Klassenzimmer.

Produktbeschreibung

Funktionen Des Atomkraft-Mikroskopes

Funktionen

Das erste großräumige industrielle Atomkraftmikroskop in China Kommerzielle Produktion erreichen

• Die Probengröße und das Gewicht sind nahezu unbegrenzt, wodurch es sich besonders für die Prüfung großer Proben wie Wafer, ultragroße Gitter und optisches Glas eignet


• Die Probenbühne hat eine starke Erweiterbarkeit und ist sehr bequem Für die Kombination mehrerer Geräte zur in-situ-Erkennung


• Automatisches Scannen mit einem Klick, das mehrere Testpunkte für eine schnelle und automatisierte Erkennung programmieren kann


• Halten Sie die Probe während des Scanvorgangs fest, und fahren Sie die Sonde mit dem Sensor, um die XYZ 3D-Bewegungsmessung durchzuführen


• Design des Gantry-Scanners, Marmorsockel, Vakuumadsorptionsstufe


• Integrierte Lösungen für mechanische Schwingungsdämpfung und Umgebungsgeräuschschutz Reduzieren Sie den Geräuschpegel des Systems


• Intelligente und schnelle Nadeleinführmethode zur automatischen Erkennung piezoelektrischer Keramik unter Motorsteuerung, zum Schutz von Sonden und Proben


• Scanner nonlinear Korrektur Benutzer-Editor, mit Nano-Charakterisierung und Messgenauigkeit besser als 98%

Software

1. Zwei Arten von Sampling Pixel zur Auswahl: 256×256, 512×512


2. Scan Area Move and Cut-Funktion ausführen, wählen Sie einen interessanten Bereich der Probe


3. Probe am Anfang in zufälligem Winkel scannen


4. Stellen Sie das Laser-Punkterkennungssystem in Echtzeit ein


5. Wählen Sie eine andere Farbe für das Scanbild aus, und legen Sie sie in der Palette fest


6. Unterstützung der linearen Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit für Beispieltitel


7. Unterstützt die Kalibrierung der Scannerempfindlichkeit und die automatische Kalibrierung der elektronischen Steuerung


8. Unterstützung der Offline-Analyse und des Prozesses von Beispielbildern

Firmenname: Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd

 
 

Produktparameter

Arbeitsmodus	Kontaktmodus, Tippmodus	Z-Hubtisch	Schrittmotor-Antriebssteuerung mit einer minimalen Schrittgröße von 10nm
Optionaler Modus	Reibungskraft/Seitenkraft, Amplitude/Phase, magnetische Kraft/elektrostatische Kraft	Z-Hubweg	20mm (optional 25mm)
Kraftspektrumkurve	F-Z-Kraftkurve, RMS-Z-Kurve	Optische Positionierung	10x optisches Objektiv
XYZ-Scanmethode	XYZ-Scans mit Sonde	Kamera	Digitaler CMOS mit 5 Megapixeln
XY-Scanbereich	Mehr als 100um×100um	Scanrate	0,6Hz~30Hz
Z-Scanwinkel	Größer als 10um	Scanwinkel	0~360 Grad
Scanauflösung	Horizontal 0,2nm, vertikal 0,05nm	Betriebsumgebung	Windows 10 Betriebssystem
XY Probenbühne	Schrittmotor-Antriebssteuerung, mit einer Bewegungsgenauigkeit von 1um	Kommunikationsschnittstelle	USB2,0/3,0
XY Shift-Bewegung	200×200mm (optional 300×300mm)	Instrumentenstruktur	Gantry-Scankopf, Marmorsockel
Probenladeplattform	Durchm. 200mm (optional 300mm)	Dämpfungsmethode	Luftschwimmende Stoßdämpfung Schallschutzabdeckung (Optionale aktive Stoßdämpfungsplattform)
Probengewicht	≤20kg

Technische Hauptparameter

Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Führte die FSM im Jahr 2013 ein. Mit dem Fokus auf die Entwicklung von Instrumenten für Labore und Fabriken in den letzten 9 Jahren bieten wir ein Rasterkraftmikroskop für die Ausbildung und die Wafer-Inspektion an.

Das FSM bietet das beste Kostenverhältnis auf dem Markt und ist damit die erste Wahl für alle, die eine hochwertige AFM-Technologie suchen.

 

Detaillierte Fotos