FM-Nanovview-ABHÖREN Hochwertiges Atomkraftmikroskop Das neue FM-Nanovview TAPPING High Cost-Efficiency Atomic Force Microscope von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd. Ist ideal für die fortschrittliche Forschung und hochauflösende Bildgebung. Produktbeschreibung Produktbeschreibung Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd Funktionen: Scankopf und Probenbühne wurden gemeinsam für eine starke Vibrationsdämpfung entwickelt. Präzisionslasererkennung und Sondenausrichtvorrichtung für einfache Lasereinstellung. Servomotor-Antrieb für präzise Positionierung des Scanbereichs. Hochgenaues und großes Probenübertragungsgerät für das Scannen beliebiger Untersuchungsbereiche. Optisches Beobachtungssystem für die Spitzenprüfung und Probenpositionierung. Modulares elektronisches System für einfache Wartung und Entwicklung. Schwingungsisolierung für einfache und effektive Leistung. Programme: Zwei Sampling Pixel Optionen: 256x256, 512x512. Funktionen für Bewegung und Schneiden des Scanbereichs. Random-Winkel-Scan am Anfang. Echtzeit-Anpassung des Laser-Punkterkennungssystems. Palettenauswahl für verschiedene Scanbildfarben. Unterstützung für lineare Durchschnitt- und Offset-Kalibrierung in Echtzeit. Kalibrierung der Scannerempfindlichkeit und automatische Kalibrierung der elektronischen Steuerung. Offline-Analyse und Verarbeitung von Beispielbildern. Entdecken Sie unsere fortschrittliche Scan-Technologie für präzise und effiziente Probenanalysen. Produktparameter III Technische Hauptparameter Entdecken Sie die wichtigsten technischen Spezifikationen des Teaching Microscope with Max Scan von Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd
| Element |
Technische Daten |
Element |
Technische Daten |
| Betriebsmodi |
Kontaktmodus , Reibungsmodus , erweiterte Gewindebohrungsmodi , Phase, MFM, EFM. |
Scanwinkel |
Zufällig |
| Probengröße |
φ≤90mm,H≤20mm |
Probenbewegung |
0~20mm |
| Max. Scanbereich |
X/Y: 20 um, Z: 2 um |
Impulsbreite des sich nähernden Motors |
10±2ms |
| Auflösung |
X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05nm |
Optisches System |
Vergrößerung: 4x, Auflösung: 2,5 um |
| Scanrate |
0,6Hz~4,34Hz |
Datenpunkte |
256×256.512×512 |
| Scansteuerung |
XY: 18-BIT D/A, Z: 16-BIT D/A |
Feedback -Typ |
DSP -Digitalfeedback |
| Datenabtastung |
Ein 14-Bit -A/D und ein doppelter 16-Bit -A/D -Mehrkanal gleichzeitig |
| PC -Verbindung |
USB2,0 |
Rückmeldesignal |
64,0KHz |
| Fenster |
Kompatibel mit Windows98/2000/XP/7/8 |
Willkommen bei Suzhou FlyingMan Precision Instruments Co., Ltd Gegründet 2013, sind wir spezialisiert auf die Herstellung von hochwertigen Instrumenten für Labors und Fabriken. Unser Flaggschiff ist das Atomic Force Microscope (AFM), das sowohl für den Einsatz in Bildungseinrichtungen als auch für Wafer-Inspektionsprozesse konzipiert wurde. Unser AFM bietet eine beispiellose Präzision und Genauigkeit und ist daher ein unverzichtbares Werkzeug für verschiedene wissenschaftliche und industrielle Anwendungen. Detaillierte Fotos
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