• Hast hoch beschleunigte Belastungskammer für Halbleiter
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Hast hoch beschleunigte Belastungskammer für Halbleiter

After-sales Service: 24 Hours on Line Services
Power Supply: 220V
Certification: CE, ISO
Warranty: 1 Year
Durchmesser: 350/550mm
Tiefe: 450/650mm

Wenden Sie sich an den Lieferanten

Hersteller/Werk & Handelsunternehmen

360° virtueller Rundgang

Diamond-Mitglied Seit 2013

Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen

Guangdong, China
Hohe Auswahl für Wiederholungskäufer
Mehr als 50 % der Käufer entscheiden sich immer wieder für den Lieferanten
F&E-Fähigkeiten
Der Lieferant verfügt über 21 Forschungs- und Entwicklungsingenieure. Weitere Informationen finden Sie unter Audit Report
Management-Zertifizierung
Der Lieferant verfügt über eine Zertifizierung des Qualitätsmanagementsystems, einschließlich:
ISO9001:2015 certificate
ISO14001
ISO45001:2018 certificate
Produktzertifizierung
Die Produkte des Lieferanten verfügen bereits über relevante Zertifizierungsqualifikationen, darunter:
CE
, um alle verifizierten Stärkelabels (27) anzuzeigen.
  • Überblick
  • Produktbeschreibung
  • Produktparameter
  • Produktanwendung
  • Unternehmensprofil
  • Verpackung Und Versand
Überblick

Grundlegende Informationen.

Modell Nr.
HAST
Temperaturbereich
+105ºC~+135ºC
feuchtigkeitsbereich (Sättigungskontrolle)
65 % rel. luftfeuchtigkeit bis 100 %
feuchtigkeitsbereich (Sättigungskontrolle)
100 % rel. luftfeuchtigkeit
Druckzeit
Normaldruck ~200kPa innerhalb von 20 min
Transportpaket
Strong Plywood Case, Meet International Standards
Spezifikation
Standard and Customized available
Warenzeichen
KOMEG
Herkunft
Dongguan, China
HS-Code
90321000
Produktionskapazität
1000 Sets Per Year

Produktbeschreibung


HAST hoch beschleunigte Belastungskammer für Halbleiter

 
Produktbeschreibung


HAST Chamber, auch als hoch beschleunigte Belastungstestkammer bekannt, integriert hohe Temperatur, hohe Luftfeuchtigkeit und hohen Druck. Diese neu konzipierte HAST-Kammer ist ein neues Produkt, das 2023 offiziell von KOMEG eingeführt wurde.  

Kleinere Größe
Sicheres Design
Reduzieren Sie die Testzeit
Testen von Mikrochips und  Halbleitern
Erfüllt mehrere Teststandards
In verschiedenen Kapazitäten erhältlich
Anpassung akzeptieren

 
Produktparameter
Modell-Nr. KM-HAST-35 KM-HAST-55
Innengröße (mm) Durchmesser (Φ) 350 550
Tiefe (D) 450 650
Außengröße (mm) Breite (B) 730 1150
Höhe (H) 1630 1550
Tiefe (D) 1100 1400
Temperaturbereich  +105ºC~+135ºC
Feuchtigkeitsbereich 65 % rF bis 100 % (Sättigungskontrolle)
100 % rel. Luftfeuchtigkeit (Sättigungskontrolle)
Druckbereich 0,05~0,3MPa
Manometerdruck: +0,2~200kPa
Absolutdruck: 100 ~ 300kPa
Temperaturschwankungen ±  0,5 C
Temperaturgleichmäßigkeit   3,0 C
Temperaturabweichung   ±3,0 C
Luftfeuchtigkeit Schwankung ±3,0 % REL. LUFTFEUCHTIGKEIT
Luftfeuchtigkeitsabweichung ±5,0 % REL. LUFTFEUCHTIGKEIT
Druckabweichung   ±2kPa
Aufheizgeschwindigkeit   ±25ºC~+135ºC innerhalb von 45 Minuten
(Durchschnitt im gesamten Prozess) (keine Last, keine Heizung)
Druckzeit Normaldruck ~200kPa innerhalb von 20 min
Stromversorgung  220V AC 1Ø 50HZ
Rauschen ≤68dB (1 Meter Abstand von der Tür)
Sicherheitsschutzvorrichtung NFB (kein Sicherungsschalter), Überdruck-, Überhitzungs- und Überstromschutz für Kompressor, Übertemperaturschutz, Überlastschutz für Lüfter, Trockenwärmeschutz, kurz Wasserschutz
 
Produktanwendung

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Unternehmensprofil


Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors
Verpackung Und Versand

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors

Hast Highly Accelerated Stress Testing Chamber for Semiconductors


 

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Anzahl der Angestellten
146
Gründungsjahr
2011-05-06