Kundenspezifische hoch-und Niedertemperatur beschleunigt Alterung Kammer

• After-sales Service: 1year
• Warranty: 1year
• Innengröße des Gehäuses: W760*D400*h890mm
• Größe des äußeren Gehäuses: W1870*D890*H1830mm
• Gewicht: Etwa 950kg
• Lautstärke: 270L
• Modell Nr.: HD-512-NAND
• Transportpaket: Strong Wooden Case
• Spezifikation: W760× D400× H890mm
• Warenzeichen: Haida
• Herkunft: China
• Produktionskapazität: 300pieces/Month

Produktbeschreibung

Kundenspezifische Hoch-Und Niedertemperatur Beschleunigt Alterung Kammer

 

Produktspezifikation
1.Flash Speicherchip intelligentes Testsystem HD-512-NAND ist ein umfassendes Flash-Speicher-Testsystem, das den Testplan anpassen und parallele Tests verschiedener Arten von Flash-Speicher-Partikeln unterstützen kann. 64 Typen, die maximale Anzahl von Flash-Speicher-Teilchen in parallelen Tests erreichen kann 512.

Flash-Speicherchip intelligentes Testsystem YC-512-NAND unterstützt mehrere Testmuster und benutzerdefinierte Testparameterfunktionen, Und kann mit einem Klick grundlegenden Testprozess und High-Level-Testprozess mit hoher Flexibilität bieten, kann nicht nur die verbleibende Lebensdauer von Flash-Speicher-Partikel zu realisieren, tatsächliche Messung, Datenspeicherung und Lesestörungen und andere Funktionstests können auch helfen, Benutzer zu überprüfen, den Zuverlässigkeitsstatus von Flash-Speicher-Partikel. Nach Abschluss des Tests kann der Testbericht einfach und schnell mit einem Schlüssel exportiert werden, sodass Kunden die intuitivsten und genauesten grafischen Testdaten erhalten. Stellen Sie die intuitivste Datenreferenz für die Klassifizierung und Anwendung von Flash-Speicherpartikeln bereit, und realisieren Sie eine intelligente Klassifizierung auf der Grundlage der Qualitätsprüfung von Flash-Speicherpartikeln.

Die Testbasis entspricht JEDEC Stand No,218: Solid State Technology Association B-2016 Solid-State Drive (SSD) Anforderungen und Dauerlauftest Motho;
Die Testbasis entspricht JEDEC Standard No,47 NVCE: Solid State Technology Association Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits;
Die Konstruktionsdaten der Prüfplatte erfüllen die Anforderungen der industriellen Testtemperaturumgebung;

Informationen

Innengröße des Kastens	W760×D400×H890mm
Größe des äußeren Kastens	W1870×D890×H1830mm
Lautstärke	270L
Öffnungsmethode	Einzeltür (rechts offen)
Kühlmethode	Luftgekühlt
Gewicht	Etwa 950KG
Stromversorgung	AC 380V  CA. 7,5 KW

Temperaturparameter

Temperaturbereich	-70ºC~150ºC
Temperaturschwankungen	≤±0.5ºC ≤±1ºC
Temperaturunterschied	≤±2ºC
Temperaturauflösung	0.01ºC
Heizrate	5ºC/min (mechanische Kühlung, unter Standardlast)
Temperaturwechselfrequenz	Hohe Temperatur kann 5ºC~8ºC/min nicht linear einstellbar (gemessen am Luftauslass, mechanische Kühlung, unter Standardlast), niedrige Temperatur kann 0ºC~2ºC/min nicht linear erfüllen Einstellbar (gemessen am Luftaustritt, mechanische Kühlung, unter normaler Belastung)
Temperaturgleichmäßigkeit	≤±2ºC
Standardlast	10kg Aluminiumblock, 500W Last;

Teststandard

GB/T5170,2-2008 Temperaturprüfgeräte

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1:2007) Niedertemperaturtestmethode ab.

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) Hochtemperatur-Testmethode BA.

GJBl50,3 (MIL-Std-810D) Hochtemperatur-Testverfahren.

GJBl50,4 (MIL-Std-810D) Prüfverfahren für niedrige Temperaturen.

Steuerungssystem

Anzeigen	LCD-Farbdisplay
Betriebsmodus	Programmmodus, Festwertmodus
Einstellung	Menü Chinesisch und Englisch (optional), Touchscreen-Eingabe
Einstellbereich	Temperatur: Entsprechend dem Temperaturbereich der Ausrüstung einstellen (oberer Grenzwert +5, unterer Grenzwert -5)
Bildschirmauflösung	Temperatur: 0,01 Grad Zeit: 0,01min
Kontrollmethode	BTC-Regelmethode für ausgeglichene Temperaturen + DCC (intelligente Kühlsteuerung) + DEC (intelligente elektrische Steuerung) (Temperaturprüfgeräte) BTHC-ausgeglichene Temperatur- und Feuchtigkeitskontrollmethode + DCC (Intelligente Kühlsteuerung) + DEC (intelligente elektrische Steuerung) (Temperatur- und Feuchtetestgeräte)
Kurvenaufzeichnung	Es verfügt über RAM mit Batterieschutz, der den eingestellten Wert, den Abtastwert und die Abtastzeit des Geräts speichern kann; die maximale Aufnahmezeit beträgt 350 Tage (wenn die Abtastzeit 1,5min beträgt)
Zubehörfunktion	Fehleralarm und Ursache, Verarbeitung der Eingabeaufforderung Abschaltschutz Funktion zum Schutz der oberen und unteren Grenztemperatur Kalenderfunktion (automatischer Start- und Stoppbetrieb) Selbstdiagnosefunktion

Einführung In Unser Unternehmen :
HAIDA INTERNATIONAL ist ein professioneller Hersteller von verschiedenen Arten von Prüfgeräten über 24 Jahre. HAIDA Produkte sind weit verbreitet in Papierprodukten, Verpackungen, Tintendruck, Klebebänder, Taschen, Schuhe, Lederprodukte, Umwelt, Spielzeug, Babyprodukte, Hardware, elektronische Produkte, Kunststoffprodukte, Gummiprodukte und andere Industrien, und anwendbar auf alle wissenschaftlichen Forschungseinheiten, Qualitätskontrollinstitutionen und akademischen Bereichen.