FTIR Spektrometer (FTIR-W10A/W20A)
MERKMALE:
- Neuer Typ Wü Rfelecke Michelson Interferometer kennzeichnet kleinere Grö ß E und die Kompaktbauweise und stellt hö Here Stabilitä T und weniger empfindlich fü R bereit Schwingungen und thermische Varianten als herkö Mmliches Michelson Interferometer
- Das vö Llig gedichtete Feuchtigkeit- und Staubbeweisinterferometer, Hochleistungs- annehmend, langes Lebenszeitdichtungsmaterial und Entfeuchter, stellt hö Here Anpassungsfä Higkeit zur Umgebung sicher und erhö Ht, die die Genauigkeit und Zuverlä Ssigkeit in Kraft sind. Sichtbares Fenster fü R Silikagel aktiviert einfache Beobachtung und Abwechslung
- Lokalisierte IR-Quelle und groß Er PlatzWä Rmeableitungraumentwurf liefert hö Here Wä Rmebestä Ndigkeit. Bestä Ndige Stö Rung wird ohne die Notwendigkeit der dynamischen Einstellung erreicht
- Hohe Intensitä T IR-Quelle nimmt einen Reflexbereich an, um sogar zu erreichen und bestä Ndige IR-Strahlung
- Die Kü Hlventilatorausdehnung, die Entwurf verschiebt, stellt gute mechanische Stabilitä T sicher
- Super breites Beispielfach liefert mehr Flexibilitä T, verschiedene Zubehö R anzupassen
- Die Anwendung des programmierbaren Gewinnverstä Rkers, des hohe Genauigkeit A-/Dkonverters und des eingebetteten Computers verbessert die Genauigkeit und die Zuverlä Ssigkeit des vollstä Ndigen Systems
- Das Spektrometer schließ T an PC ü Ber einen USB-Kanal zur Steuerung und zur Datenkommunikation an und vö Llig verwirklicht bedienungsfertiges Geschä Ft
- Kompatible PC-Steuerung mit benutzerfreundlicher, reicher Funktionssoftware aktiviert einfaches, bequemes und flexibles Geschä Ft. Spektrum montieren, Spektrumkonvertierung, das Spektrum, das aufbereitet, das analysierende Spektrum, und Spektrumausgabeaufgabe etc. Kann wahrgenommen werden
- Verschiedene Special IR-Bibliotheken sind fü R routinemä ß Ige Recherche erhä Ltlich. Benutzer kö Nnen auch hinzufü Gen und die Bibliotheken oder die neuen Bibliotheken der Installation durch selbst warten
- Zubehö R wie entschä Rfte/Spiegelreflexion, automatische Rü Ckstellung, flü Ssige Zelle, Gaszelle und IR-Mikroskop usw. Kö Nnen in das Beispielfach eingehangen werden
BEDINGUNGEN:
Spektralreichweite: 7800 bis 350 cm- 1
Auflö Sung: Als 0.85cm verbessern- 1 (FTIR-W10A)
Als 0.5cm verbessern- 1 (FTIR-W20A)
Wavenumber Prä Zision: ± 0.01cm- 1
Abtastgeschwindigkeit: Jobstepp 5 justierbar fü R verschiedene Anwendungen
Gerä Uschabstand: Als 15, 000: 1 verbessern (Effektivwert-Wert, bei 2100cm- 1, Auflö Sung: 4cm- 1, Detektor: DTGS, 1 minuziö Se Datenerfassung)
Trä Gerteiler: GE-ü Berzogenes KBr
Infrarotquelle: Luftgekü Hlte, hohe Leistungsfä Higkeit Reflexbereichbaugruppe
Detektor: DTGS
Datensystem: Kompatibler Computer
Software: FT-IR Software enthä Lt alle Programme, die fü R grundlegende Spektrometergeschä Fte, einschließ Lich Bibliotheksrecherche, quantitative Bestimmung und Spektrumexport benö Tigt werden
Ir-Bibliothek 11 IR-Bibliotheken eingeschlossen
Abmessungen: 54x52x26cm
Gewicht: 28kg
ZUBEHÖ R
Diffundieren/Spiegelreflexions-Zusatzgerä T
Es ist eine vielseitig begabte verbreitete Reflexion und Spiegelein reflexionszusatzgerä T. Modus der verbreiteten Reflexion wird fü R transparente und Puderbeispielanalyse verwendet. Spiegelreflexionsmodus ist fü R das Messen der glatten reflektierenden Oberflä Che und das Beschichten der Oberflä Che
- Hoher heller Durchsatz
- Einfaches Geschä Ft, keine interne Einstellung benö Tigt
- Ausgleich der optischen Abweichung
- Kleiner heller Punkt, fä Hig, Mikroproben zu messen
- Variabler Einfallswinkel
- Fasten Ä Nderung von Pudercup
Horizontale Winkel automatische Rü Ckstellung Rü Ckstellung-/Variable (30° ~ 60° )
Horizontale automatische Rü Ckstellung ist fü R die Analyse des Gummis geeignet, zä Hflü Ssige Flü Ssigkeit, groß E Oberflä Chenprobe und biegsame variable automatische Rü Ckstellung Winkel der Kö Rper etc. Wird fü R Messen der Filme, anstreichende (Beschichtung) Schichten verwendet und etc. Gelatiert
- Einfache Installation und Geschä Ft
- Hoher heller Durchsatz
- Variable Tiefe des IR-Durchgriffes
Ir-Mikroskop
- Mikro prü Ft Analyse, minimale Stichprobengrö ß E: 100µ M (DTGS Detektor) und 20µ M (MCT Detektor)
- Zerstö Rungsfreie Beispielanalyse
- Lichtdurchlä Ssige Beispielanalyse
- Zwei Messen-Methoden: Ü Bertragung und Reflexion
- Einfache Beispielvorbereitung
Einzelne Reflexion automatische Rü Ckstellung
Sie versieht hohen Durchsatz, wenn sie Materialien mit hoher Absorption, wie Polymer-Plastik, Gummi, Lack, Faser etc. Messen
- Hoher Durchsatz
- Einfaches Geschä Ft und hohe analytische Leistungsfä Higkeit
- ZnSe, Diamant-, AMTIR-, GE-und Si-Kristallplatte kann entsprechend Anwendung ausgewä Hlt werden
Zusatzgerä T fü R Ermittlung des Hydroxyls im IR-Quarz
- Schnelles, bequemes und genaues Messen des Hydroxylgehalts im IR-Quarz
- Direktes Messen zum IR-Quarzgefä ß , keine Notwendigkeit, Proben zu schneiden
- Genauigkeit: ≤ 1× 10- 6 (≤ 1ppm)
Zusatzgerä T fü R Sauerstoff und Kohlenstoff in der Silikon-Kristall-Ermittlung
- Spezieller Silikonplattenhalter
- Automatisches, schnelles und genaues Messen des Sauerstoffes und des Kohlenstoffes im Silikonkristall
- Nachweisgrenze senken: 1.0× 1016 cm- 3 (bei Zimmertemperatur)
- Silikonplattenstä Rke: 0.4~4.0 mm
SiO2 Puder-Staub-Ü Berwachung-Zusatzgerä T
- Spezielles SiO2 Puderstaubü Berwachungsoftware
- Schnelles und genaues Messen von SiO2 Puderstaub
Teilprü Fungs-Zusatzgerä T
- Schnelles und genaues Messen der Antwort solcher Bauteile wie MCT, InSb und PbS etc.
- Kurve, Hö Chstwellenlä Nge, Endwellenlä Nge und D* usw. Kö Nnen dargestellt werden
Optikfaserprü Fung Zusatzgerä T
- Einfaches und genaues Messen der Verlustkinetik der IR-Optikfaser, die Schwierigkeiten fü R Faserprü Fung, da sie sehr dü Nn sind, mit sehr kleinen Licht-ü Berschreitenen Lö Chern ü Berwindend und unbehaglich zur Verlegenheit
Schmucksache-Inspektion-Zusatzgerä T
- Genaues Kennzeichen der Schmucksachen
Universalzubehö R
- Ö Rtlich festgelegte flü Ssige Zellen und abmontierbare flü Ssige Zellen
- Gaszellen mit unterschiedlicher Pfadlä Nge
Geprüfter Lieferant 
