After-sales Service: | Online Technical Support |
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Anwendung: | Laborbedarf |
Garantie: | 1 Jahr |
Erkennungsmethode: | Spektrophotometer |
Vorteil: | High Sensitive |
Prinzip: | Klassische Spectrometer |
Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen
752N sichtbares/UV-Spektralfotometer mit CE-Zulassung
Das Produkt verwendet Mikroprozessorsteuerung Technologie im UV-sichtbaren Spektralbereich des Materials für qualitative und quantitative Analyse, ist ein konventionelles Labor notwendig Mehrzweck-Analysegeräte.
Hauptmerkmal:
Holographische Funkeln Gitter Monochromator, mit hoher Wellenlängengenauigkeit, monochromatisch, Streulicht niedrig und so weiter.
Mit einem hintergrundbeleuchteten LCD-Monitor, die Messdaten auf einen Blick.
Mit Mikrocomputer-Messsystem, T-A-Umrechnungsgenauigkeit ist hoch, und es gibt automatische 0% T und
Stellen Sie die Konzentration von 100 % T, den eingestellten Konzentrationsfaktor und die Konzentration des direkten Messwerts ein.
Hohe Genauigkeit der Messergebnisse, gute Reproduzierbarkeit und gute Stabilität.
Optional:
Serieller Drucker
Spezielle Analysesoftware
Sonstiges:
Lichtquelle: 12V20W Halogenlampe und de*uterium Lampe
Versorgungsspannung: AC220V ± 22V 50Hz ± 1Hz
Leistung: 120W
Technische Indikatoren:
Modell | 752N |
Messmodus: | Einzelstrahl |
Monochromator: | Selbstkollimation |
Brennweite: | 160mm |
Gitter: | 1200 Zeilen/mm |
Detektor: | Fotozelle |
Spektrale Bandbreite: | 4Nm |
Wellenlängeneinstellung: | Der Knopf wird manuell eingestellt |
Wellenlängenbereich: | 200 - 1000nm |
Wellenlängengenauigkeit: | ± 2nm |
Wiederholbarkeit der Wellenlänge: | ≤1nm |
Wellenlänge für die Lichtquellenschaltung: | 340nm |
Streulicht: | ≤ 0,3 % (T) (gemessen bei N2O bei 220 nm) |
(Gemessen bei 360 nm mit NaNO2) | |
Photometrischer Bereich: |
0,0 ~ 200,0 % T |
0 ~ 2,000A | |
0,000 bis 9999C | |
Photometrische Genauigkeit: |
± 0,5 % T |
± 0,004Abs (0 - 0,5A) | |
0,004Abs (0,5 -1 A) | |
Photometrische Wiederholbarkeit: |
≤ 0,2 % T |
0,002Abs (0 - 0,5A) | |
0,004Abs (0,5 -1 A) | |
Rauschen: | 0,3 % T |
Messmodus | Doppelstrahl |
Monochromator | Czerny - Turner |
Brennweite | 200mm |
Gitter | 1600 Zeilen/mm |
Detektor | Fotozelle |
Spektrale Bandbreite | 2nm |
Wellenlängeneinstellung | Touchscreen-Eingabe |
Wellenlängenbereich | 190 - 1100nm |
Wellenlängengenauigkeit | ± 0,3nm |
Wiederholbarkeit der Wellenlänge | ≤ 0,1nm |
Scangeschwindigkeit der Wellenlänge | Schnell, mittel und langsam |
Wellenlänge der Lichtquelle | 340nm |
Streulicht | ≤ 0,02 % (gemessen mit Nai bei 220 nm) (Gemessen bei NaNO2 bei 360 nm) |
Photometrischer Bereich: | 0,0 ~ 200,0 % T -0,301 ~ 4,000A 0,000 bis 9999C |
Photometrische Genauigkeit: | ± 0,3 % T ± 0,002Abs (0 - 0,5A) ± 0,004Abs (0,5 - 1A) |
Photometrische Wiederholbarkeit: | ≤ 0,15 % T 0,001Abs (0 - 0,5A) 0,002Abs (0,5 - 1A) |
Planheit der Grundlinie: | ≤ ± 0,0008A |
Rauschen: | 0,1 % T |
Grundliniendrift: | ± 0,0004 (A/h) bei 250nm und 500nm (2 Stunden vorheizen) |
Versorgungsspannung: | AC220V ± 22V 50Hz ± 1Hz |
Leistung: | 200W |
Messmodus | Der Anteil des Doppelstrahls |
Monochromator | Czerny - Turner |
Brennweite | 160mm |
Gitter | 1200 Zeilen/mm |
Detektor | Fotozelle |
Spektrale Bandbreite | 2nm |
Wellenlängeneinstellung | Touchscreen-Eingabe |
Wellenlängenbereich | 190 - 1100nm |
Wellenlängengenauigkeit | ± 0,5nm |
Wiederholbarkeit der Wellenlänge | ≤ 0,2nm |
Scangeschwindigkeit der Wellenlänge | Schnell, mittel und langsam (beschränkt auf S-Modelle) |
Wellenlänge der Lichtquelle | 340nm |
Streulicht | ≤ 0,03 % (T) (gemessen bei Nil in 220 nm) (Gemessen bei NaNO2 bei 360 nm) |
Photometrischer Bereich: | 0,0 ~ 200,0 % T -0,301 ~ 4,000A 0,000 bis 9999C |
Photometrische Genauigkeit: | ± 0,3 % T ± 0,002Abs (0 - 0,5A) ± 0,004Abs (0,5 - 1A) |
Photometrische Wiederholbarkeit: | ≤ 0,15 % T 0,001Abs (0 - 0,5A) 0,002Abs (0,5 - 1A) |
Planheit der Grundlinie: | ≤ ± 0,002A (200nm ~ 1090nm) (begrenzt auf S) |
Rauschen: | 0,15 % T |
Grundliniendrift: | ± 0,0009Abs / 0,5h (begrenzt auf S) (nach 2h Boot, 250nm und 500nm) |
Messmodus | Einzelstrahl |
Monochromator | Selbstkollimation |
Brennweite | 160mm |
Gitter | 1200 Zeilen/mm |
Detektor | Fotozelle |
Spektrale Bandbreite | 2nm |
Wellenlängeneinstellung | Touchscreen-Eingabe |
Wellenlängenbereich | 190 - 1100nm |
Wellenlängengenauigkeit | ± 1nm |
Wiederholbarkeit der Wellenlänge | ≤ 0,5nm |
Scangeschwindigkeit der Wellenlänge | Schnell, mittel und langsam |
Wellenlänge der Lichtquelle | 340nm |
Streulicht | ≤ 0,1 % (T) (gemessen bei Nil in 220 nm) (Gemessen bei NaNO2 bei 360 nm) |
Photometrischer Bereich |
0,0 ~ 200,0 % T |
-0,301 ~ 4,000A | |
0,000 bis 9999C | |
Photometrische Genauigkeit |
± 0,5 % T |
± 0,004Abs (0 - 0,5A) | |
± 0,008Abs (0,5 - 1A) | |
Photometrische Wiederholbarkeit |
≤0,2 % T |
0,002Abs (0 - 0,5A) | |
0,004Abs (0,5 -1 A) | |
Planheit der Grundlinie | ≤ ± 0,003A (begrenzt auf S) |
Rauschen | 100 % (T) ≤ 0,2 % (T) |
0 % (T) ≤ 0,1 % (T) | |
Grundliniendrift | ± 0,004Abs / 0,5h (begrenzt auf S) |
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