Manufacturing Technology: | Optoelectronic Semiconductor |
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Material: | Element Semiconductor |
Type: | Silicon Wafer Substrate |
Package: | Customize as Per Demand |
Signal Processing: | Analog Digital Composite and Function |
Application: | Temperature Measurment & Optics Applying |
Lieferanten mit verifizierten Geschäftslizenzen
Anwenden 1 | Infrarot-Thermometer; |
Anwenden 2 | Infrarot-Wärmebildkameras; |
Anwenden 3 | Infrarotmelder; |
Anwenden 4 | Infrarotsensoren; Infrarotalarm; Lichtschalter (pyroelektrischer Infrarotsensor) Nachtsichtfenster Thermometerfenster Wärmebildkamera Gasanalysator |
Technische Daten | Beschreibung Und Wert |
Substrat | Monokristallines Silizium |
Brennweite | +-2% @10,6um |
Größentoleranz | 0/-0,15mm |
Dickentoleranz | +/-0,05mm |
Optisches Zeichen | 2-5um @ Tave weniger als 1 %; 5,5-14um @Tave mehr als 85 % |
Parallelität | Weniger als 1 Lichtbogen min |
Oberflächengüte | 60-40 Scratch-DIG |
Beschichtung | 4 Zoll oder 6 Zoll |
Nein | - | - | - | - | - | GRÖSSE |
RAY-ISP01# | - | - | - | - | - | 2,8*2,8*0,5 |
RAY-ISP02# | - | - | - | - | - | 2,9*2,9*0,5 |
RAY-ISP03# | - | - | - | - | - | 3,0*3,0*0,5 |
Andere Größe | Anpassen |
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