Grundlegende Informationen.
Art
Industrial Inspection Microscope
Anzahl von Zylinder
≥ Drei
Stereoskopischen Effekt
Stereoscopic Effect
Art der Lichtquelle
Reflected Illumination/Transmitted Illumination
Verwendung
Lehre, Forschung
Viewing Head
Tilting Trinocular Head
Eyepiece
Super Wide Field Plan Eyepiece Sw10X/25mm
Objective
5X, 10X, 20X, 40X, 50X, 100X
Nosepiece
Low-Position Coaxial Coarse
Stage
3 Layers Mechanical Stage
Focusing
Moving Range 24mm
Transportpaket
Strong Carton with Polyfoam Protection
Spezifikation
1pcs/carton, 35kgs/carton,: 65*50*90cm
Produktbeschreibung
Produktbeschreibung
BS-4020 Mikroskop für industrielle Inspektion
Einführung
Das industrielle Inspektionsmikroskop BS-4020A wurde speziell für die Inspektion von Wafern verschiedener Größen und großen Leiterplatten entwickelt. Dieses Mikroskop kann eine zuverlässige, komfortable und präzise Beobachtung ermöglichen. Mit perfekt ausgeführter Struktur, hochauflösendem optischen System und ergonomischem Betriebssystem, BS-4020A realisiert professionelle Analyse und erfüllt verschiedene Bedürfnisse der Forschung und Inspektion von Wafern, FPD, Schaltungspakete, PCB, Materialwissenschaft, Präzisionsguss, Metalllokeramiken, Präzisionswerkzeug, Halbleiter und Elektronik etc.
Funktionen
1.Perfect mikroskopische Beleuchtung System.
Das Mikroskop kommt mit Kohler-Beleuchtung, bietet helle und gleichmäßige Ausleuchtung im gesamten Sichtfeld. Abgestimmt auf das Infinity Optical System NIS45, das hohe NA- und LWD-Objektiv, kann eine perfekte mikroskopische Bildgebung bereitgestellt werden.
2.High Quality Semi-APO und APO Hellfeld & Dunkle Feld Ziele.
Durch die Verwendung der Mehrschichtbeschichtung können die Objektive der Serie NIS45 mit Semi-APO und APO sphärische Aberrationen und chromatische Aberrationen von ultraviolettem bis nahem Infrarot kompensieren. Die Schärfe, Auflösung und Farbwiedergabe der Bilder kann gewährleistet werden. Das Bild mit hochauflösendem und flachem Bild für verschiedene Vergrößerungen kann erhalten werden.
3.das Bedienfeld befindet sich an der Vorderseite des Mikroskops, bequem zu bedienen.
Das Bedienfeld des Mechanismus befindet sich an der Vorderseite des Mikroskops (in der Nähe des Bedieners), wodurch die Bedienung bei der Beobachtung der Probe schneller und bequemer wird. Und es kann die Ermüdung durch lange Beobachtung und den schwebenden Staub durch eine große Bandbreite von Bewegungen verursacht zu reduzieren.
4.Ergo neigbarer trinokularer Betrachtungskopf.
Der Ergo-Neigekopf kann die Beobachtung angenehmer machen, um die Muskelspannung und Beschwerden durch lange Arbeitsstunden zu minimieren.
5.Focusing Mechanismus und Feineinstellung Griff der Bühne mit niedriger Hand Position.
Der Fokussiermechanismus und der Feineinstellgriff der Bühne übernehmen die niedrige Handposition, die dem ergonomischen Design entspricht. Benutzer müssen beim Betrieb keine Hände heben, was ein Höchstmaß an Komfort bietet.
6.die Bühne hat einen eingebauten Griff.
Der Kupplungsgriff kann den schnellen und langsamen Bewegungsmodus der Bühne realisieren und große Proben schnell lokalisieren. Es wird nicht mehr schwierig sein, die Proben schnell und genau zu finden, wenn man sie zusammen mit dem Feinjustiergriff der Stufe verwendet.
7. Übergroße Bühne (14" x 12") kann für große Wafer und PCB verwendet werden.
Die Bereiche der Mikroelektronik und Halbleiterproben, insbesondere Wafer, sind in der Regel groß, so dass gewöhnliche metallographische Mikroskopbühne ihre Beobachtungsanforderungen nicht erfüllen kann. BS-4020 hat eine übergroße Bühne mit einem großen Bewegungsbereich, und es ist bequem und einfach zu bewegen. Es ist somit ein ideales Instrument für die mikroskopische Beobachtung von großflächigen Industrieproben.
8. 12" Wafer Halter kommt mit dem Mikroskop.
12" Wafer und kleinere Wafer können mit diesem Mikroskop beobachtet werden, mit schnellen und feinen Bewegung Bühne Griff, kann es die Arbeitseffizienz erheblich verbessern.
9. Anti-statische Schutzabdeckung kann Staub reduzieren.
Industrieproben sollten weit entfernt von Schwebestaub sein, und ein wenig Staub kann die Produktqualität und Testergebnisse beeinträchtigen.
BS-4020 hat eine große Fläche von antistatischen Schutzabdeckung, die vor dem schwimmenden Staub und Fallstaub verhindern kann, um die Proben zu schützen und das Testergebnis genauer zu machen.
10. Längerer Arbeitsabstand und hohes NA-Ziel.
Die elektronischen Komponenten und Halbleiter auf Leiterplattenproben haben Höhenunterschiede. Daher wurden bei diesem Mikroskop Objektive mit langen Arbeitsabstände eingesetzt. Um den hohen Anforderungen der Industriemuster an die Farbwiedergabe gerecht zu werden, wurde die Mehrschichtbeschichtungstechnologie im Laufe der Jahre entwickelt und verbessert und es werden BF&DF semi-APO und APO Objektive mit hohem NA eingesetzt, die die Echtfarbe der Proben wiederherstellen können.
11. Verschiedene Beobachtungsmethoden können unterschiedliche Testanforderungen erfüllen.
Beleuchtung | Helles Feld | Dunkles Feld | DIC | Leuchtstofflampe | Polarisiertes Licht |
Reflektierte Beleuchtung | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
Übertragene Beleuchtung | ○ | - | - | - | ○ |
Helles Feld der reflektierten Beleuchtung
BS-4020 verwendet ein ausgezeichnetes Infinity-optisches System. Das Sichtfeld ist gleichmäßig, hell und mit hohem Farbreproduktionsgrad. Es eignet sich zur Beobachtung von undurchsichtigen Halbleiterproben.
Dunkles Feld
Es kann hochauflösende Bilder bei der Beobachtung von dunklen Feldern und die Nachkontrolle mit hoher Empfindlichkeit auf Fehler wie feine Kratzer realisieren. Es eignet sich für die Oberflächeninspektion von Proben mit hohen Anforderungen.
Helles Feld der Durchleuchtungsbeleuchtung
Für transparente Proben, wie FPD und optische Elemente, kann die Hellfeldbeobachtung durch Kondensator des Durchlichtlichts realisiert werden. Es kann auch mit DIC, einfacher Polarisation und anderem Zubehör verwendet werden.
Einfache Polarisierung
Diese Beobachtungsmethode eignet sich für Proben mit Doppelbrechung, wie metallurgisches Gewebe, Mineralien, LCD- und Halbleitermaterialien.
Reflektierte Beleuchtung DIC
Diese Methode wird verwendet, um kleine Unterschiede in Präzisionswerkzeugen zu beobachten. Die Beobachtungstechnik kann den winzigen Höhenunterschied, der nicht in gewöhnlicher Beobachtungsweise in Form von Prägung und dreidimensionalen Bildern zu sehen ist, aufzeigen.
Anwendung
Das industrielle Inspektionsmikroskop BS-4020A ist ein ideales Instrument für die Inspektion von Wafern verschiedener Größen und großen Leiterplatten. Dieses Mikroskop kann in Universitäten, Elektronik und Chips Fabriken für die Forschung und Inspektion von Wafern, FPD, Schaltkreis-Paket, PCB, Materialwissenschaft, Präzisionsguss, Metalllokeramiken, Präzisionswerkzeug, Halbleiter und Elektronik etc.
Spezifikation
Element | Spezifikation | BS-4020A | BS-4020B |
Optisches System | NIS45 Infinite Color Corrected Optical System (Röhrenlänge: 200mm) | * | * |
Ansichtskopf | ERGO Kippkopf, verstellbar von 0-35 Grad geneigt, Augenabstand 47mm-78mm; Splitting Ratio Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | * | * |
Seidentopf Trinokularkopf, 30 Grad geneigt, Augenabstand: 47mm-78mm; Splitting Ratio Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ○ | ○ |
Seidentopf Binokularkopf, 30 Grad geneigt, Augenabstand: 47mm-78mm | ○ | ○ |
Okular | Super Wide Field Plan Okular SW10X/25mm, Dioptrienausgleich | * | * |
Super Wide Field Plan Okular SW10X/22mm, Dioptrienausgleich | ○ | ○ |
Extra breites Field Plan Okular EW12,5X/17,5mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ |
Weitfeld-Okular WF15X/16mm, Dioptrienausgleich | ○ | ○ |
Weitfeld-Okular WF20X/12mm, Dioptrienausgleich | ○ | ○ |
Ziel | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF), M26 | 5X/NA=0,15, WD=20MM | * | * |
10X/NA=0,3, WD=11MM | * | * |
20X/NA=0,45, WD=3,0MM | * | * |
NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF), M26 | 50X/NA=0,8, WD=1,0MM | * | * |
100X/NA=0,9, WD=1,0MM | * | * |
NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF), M25 | 5X/NA=0,15, WD=20MM | ○ | ○ |
10X/NA=0,3, WD=11MM | ○ | ○ |
20X/NA=0,45, WD=3,0MM | ○ | ○ |
NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF), M25 | 50X/NA=0,8, WD=1,0MM | ○ | ○ |
100X/NA=0,9, WD=1,0MM | ○ | ○ |
Nasenstück | Nossepiece mit Sextupel nach hinten (mit DIC-Steckplatz) | * | * |
Kondensator | LWD-KONDENSATOR N.A.0.65 | ○ | * |
Übertragene Beleuchtung | 40W LED Netzteil mit Lichtleiter aus Glasfaser, Intensität einstellbar | ○ | * |
Reflektierte Beleuchtung | Reflected light 24V/100W Halogenlampe, Köhler Beleuchtung, mit 6 Positionen Revolver | * | * |
100W Halogenlampen-Haus | * | * |
Reflektiertes Licht mit 5W LED-Lampe, Köhler-Beleuchtung, mit 6-Positionen-Revolver | ○ | ○ |
BF1 Hellfeld-Modul | * | * |
BF2 Hellfeld-Modul | * | * |
DF-Dunkelfeld-Modul | * | * |
Integrierter ND6-, ND25- und Farbkorrekturfilter | ○ | ○ |
ECO-Funktion | ECO-Funktion mit ECO-Taste | * | * |
Fokussierung | Niedrige Koaxial-Grob- und Feinfokussierung, Feinteilung 1μm, Bewegungsbereich 35mm | * | * |
Stufe | 3-lagiger mechanischer Drehtisch mit Kupplungsgriff, Größe 14 356mmx305mm (x12"); Bewegungsbereich 356mmx305mm; Beleuchtungsbereich für Durchlicht: 356x284mm. | * | * |
Wafer-Halter: Könnte verwendet werden, um 12" Wafer zu halten | * | * |
DIC-Kit | DIC-Kit für reflektierte Beleuchtung (kann für Objektive mit 10X, 20X, 50X, 100X Objektiven verwendet werden) | ○ | ○ |
Polarisationskit | Polarisator für reflektierte Beleuchtung | ○ | ○ |
Analysator für reflektierte Beleuchtung, 0-360 Grad drehbar | ○ | ○ |
Polarisator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | ○ |
Analysator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | ○ |
Anderes Zubehör | 0,5x C-Mount-Adapter | ○ | ○ |
1x C-Mount-Adapter | ○ | ○ |
Staubabdeckung | * | * |
Netzkabel | * | * |
Kalibrierfolie 0,01mm | ○ | ○ |
Probenpresser | ○ | ○ |
Hinweis: *Standard-Outfit, ○ Optional
Die Anschrift:
4#811, No. 26 Financial Street, Shi Jing Shan District, Beijing, China
Unternehmensart:
Hersteller/Werk
Geschäftsbereich:
Gesundheit und Medizin, Industrielle Anlagen und Zusatzteile, Messinstrumente, Mineralien und Energie, Produktionsmaschinen
Zertifizierung des Managementsystems:
ISO 9001, ISO 14001, ISO 13485
Firmenvorstellung:
Als führender Hersteller von Mikroskopen und Industriekameras. Wir bieten eine große Auswahl an Monokularen Zoom Mikroskopen, Biologischen Mikroskopen, Stereomikroskopen, tragbaren Mikroskopen, industriellen Inspektionsmikroskopen, Polarisationsmikroskope, Metallurgische Mikroskope, Fluoreszenzmikroskope, Gemologische Mikroskope, Multikopf-Mikroskope, Vergleichsmikroskop, LCD-Digitalmikroskope, USB-Kameras, VGA-Kameras, HDMI-Digitalkamera, Große LCD-Digitalkameras usw.
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„MEHR BIETEN ALS ERWARTET“ ist unsere konsequente Mission! BestScope möchte sich gemeinsam mit Ihnen entwickeln!