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Scannen vor Ort
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Präzises digitales Duplikat
-
Unbegrenzter Winkel
| Application: |
Temperature Measurment & Optics Applying |
| Conductivity Type: |
All |
| Purity: |
All |
| Type: |
Silicon Wafer Substrate |
| Substrate: |
Monocrystalline Silicon |
| Focal Length: |
+-2% @10.6um |
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