Multifunktionale Beugungsanalyse Röntgendiffraktometer

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Grundlegende Informationen

Modell Nr.
CY-7200
Garantie
1 Jahr
Erkennungsmethode
xrd
Vorteil
Hochsensibel
Prinzip
xrd
Wellenlängen
UV-Spektrometer
Dispersives Element
Prism Spectrometer
Licht Anzahl
Polychromator
Bescheinigung
RoHS, ISO9001, CE
Kundenspezifische
Kundenspezifische
Längenbereich
175nm ~ 800nm
Auflösung (fwhm)
0,009nm (bei 313nm)
Wellenlängenstopp
±0.001nm
Photomultiplier-Röhrchen
R306 und eine andere Art
Transportpaket
Karton
Spezifikation
75cm*65cm*70cm
Warenzeichen
Cyeeyo
Herkunft
Shan Dong
HS-Code
9027500090
Produktionskapazität
100

Produktbeschreibung

                        
                    Multifunktionale Diffraktometer XRD Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer



 1. Profil:
Es ist für die kommerzielle Prozess- und Qualitätskontrolle konzipiert. Es ist eine Konzentration von fortschrittlichen Technologien der XRD-Produktion, mit Multi-Funktion und Miniaturisierung. Es kann qualitative  Analysen, quantitative  Analysen und Kristallstrukturanalysen an Metall- und Nichtmetallproben durchführen, insbesondere für Katalysatoren, Titandioxid, Zement und Pharmazie.
2. Anlagenleistung:
  1. Der Hochfrequenz-Hochspannungs-Röntgengenerator hat eine höhere Stabilität, sodass er die Wiederholbarkeit der Daten garantiert.
  2. Goniometer θs, θd Arm nimmt Servo-Motor-Antrieb und optische Encoder -Steuerungstechnologie, so dass das Goniometer dreht sich mehr glatt, die Beugungswinkel Messung ist genauer und die Linearität ist besser. Innerhalb des Beugungswinkels beträgt die Beugungslinearität <0,02.
  3. Die Streustrahlschutzvorrichtung ist sicherer und zuverlässiger. Bei der Messung von Proben wird die Schutztür automatisch verriegelt, um die Strahlung für die Personen zu vermeiden.
  4. CY-7200XRD nimmt die fortschrittlichste Metall-Keramik-Röntgenröhre, hat es eine lange Lebensdauer (3000 Stunden).
   5.die kompakte Struktur kann ohne spezielle Laborumgebung auf der Plattform installiert werden. Es ist einfach zu bedienen und          Wartung.
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer3. Anwendung:
CY-7200XRD kann qualitative  und quantitative  Analysen an polykristallinem Material durchführen. Bei der qualitativen Analyse wird die unbekannte Struktur durch Vergleich der Messdaten mit der bekannten Phasendatenbank identifiziert. Bei der quantitativen Analyse kann es die  Eigenschaften der festen Mischung beschreiben, um den relativen Gehalt der kristallinen Verbindungen oder der nicht kristallisierten Phase zu bestätigen.                                                                                                                                                                        
Messung des Asbestgehalts in der Mischung nach CY-7200  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer
Nukleotid-analoge Medizin-Strukturanalyse durch CY-7200
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer4. Parameter:
Nennleistung (Röhrenspannung, Röhrenstrom) 600W(40kV,15mA) Stabilität: 0,005 %
Röntgenröhre Metall-Keramik-Röntgenröhre, Cu-Ziel, Leistung 2,4kW, Fokusgröße: 1 x 10 mm;
Goniometer θs-θd , Beugungsradius 150mm
Messmethode Kontinuierlich, Stepping, OMG
Winkelmessbereich Kriechleckzeit, θs/θd ist -3~150.  
Minimale Schrittbreite 0,0001 Grad
Winkelreproduzierbarkeit 0,0001 Grad
Fahrmodus Servo-Motorantrieb + optische Encoder-Steuerungstechnik
Geschwindigkeit der Winkelpositionierung 1500 Grad/min
Zähler Geschlossener Proportionalmelder
   Auflösung des Energiespektrums <25 %
Max. Lineare Zählrate ≥5×105cps (proportional)
Computer Dell-Notebook
Soft Ware Steuerungssoftware Windows 10 Betriebssystem; Steuern Sie die Röhrenspannung, Röhrenstrom, Shutter des Röntgengenerators und tun Alterung Training automatisch; Steuern Sie das Goniometer kontinuierliche oder Schrittmessung und Beugung Datenerfassung; Routine-Verarbeitung: Automatische Peak-Suche, manuelle Peaking-Suche, integrierte Intensität, Peak Höhe, Kern, Hintergrundabzug, Glätte, Peak-Shape-Amplifikation und Spektrogramvergleich, etc.
Datenverarbeitungssoftware Qualitative und quantitative Analyse von Materialphasen , Kα1 ,α2 Peeling, Vollspektrum-Anpassung, Peak-Anpassung, Halbbreiten- und Korngrößenberechnung, Kristallzellmessung, zweite Art Spannungsberechnung, Beugungslinienindexierung, Mehrfach-Plotten, 3D Plotten, Beugungsdatenkalibrierung, Hintergrundsubtraktion, quantitative Analyse ohne Standards, vollständige spektrale Bildanpassung (WPF), XRD-Beugungsbildsimulation usw.
Schutz vor Streustrahlung   Blei+ Bleiglasschutz, Fensterläden und Schutzgitter-Gestänge, die Streustrahlung Dosis nicht mehr als 1μSv/h.
Umfassende  Vorschriften für Instrumente ≤1‰
Gesamtabmessung 640×530×770 (B×T×H) mm
5. Liste der Standardkonfigurationen von CY-7200XRD:
Teil Elementname Einheit Menge Anmerkung
Röntgengenerator für Hochspannung XRD40*600 Hochfrequenz-Hochspannungs-Generator Röntgengenerator Setzen 1 Solide Technologie
X27,06 Hochspannungskabel (100kVP) Stück 1 Länge: 2,0 Meter
3311 Rohrmuffe Setzen 1  
X25,02 Stufe (Metallgehäuse) Stück 1 Bleiglasschutz
AS2910/24 Metallkeramik-Isolations -Röntgenröhre Stück 1 Cu-Ziel, 2,4kW


Goniometersystem
AG-3511 Goniometer Setzen 1 θ-θ-Struktur
Probenhalter für Schlitz und Pulver Stück 1 1 Stück pro Stück
Durchkontaktierte Probenplatte Stück 5 Aluminiummatrix
Blindloch-Probenplatte Stück 10 Quarzmatrix
Filter Stück 1 Mit Zielmaterial abgleichen
Zubehör für die Einstellung von Schlitzplatten und Beleuchtungssystemen Setzen 1  
Aufzeichnungs- und Steuerungssystem Geschlossener Proportionalmelder Setzen 1 Inklusive Anschlusskabel
Aufnahme- und Steuereinheit Setzen 1  
Motor- und Kommunikationskabel Stück 1 2 Motorkabel, 1 Kommunikationskabel
Netzteil Setzen 1  
PC-System DELL Business-Notebook Setzen 1 DELL
Systemsteuerung und entsprechende Software AL Series Diffraktometer Steuerprogramm Software Setzen
 
1 Windows10
Datenverarbeitung und Anwendungssoftware Setzen 1 Jade 6
Basis der Beugungsdatenkarte Setzen 1 PDF2
Crystal Structure Data Base Setzen 1 ICSD
Technische Dokumente XRD-Benutzerhandbuch der AL-Serie Kopieren 1  
Ersatzteile Sicherungen 1,1.5,2,2,5,3,3+(A) Stück 10 10 Stück pro Stück
Werkzeuge Setzen 1  
Achatmörtel ф100mm Stück 1  
Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerRöntgendiffraktometer analysiert natürliche oder synthetische anorganische oder organische Material, weit verbreitet im Bereich der Tonmineralien, Zement, Baustoffe, Umweltstaub, chemische Produkte, Pharmazeutika, Asbest, Gestein, Polymerforschung.
θ-θ geometriebasiertes optisches Design ist einfach für die Probenvorbereitung und Die Installation von verschiedenen Zubehör die Anwendung von Metall-Keramik Röntgenröhre stark verbessert Diffraktometer die Betriebsleistung geschlossen Proportionalzähler Ist langlebig und wartungsfrei
Silizium-Driftdetektor mit überlegener Winkelauflösung und Energieauflösung ermöglicht eine um mehr als 3-fache erhöhte Messgeschwindigkeit variiert Diffraktometer Zubehör erfüllt verschiedene analytische Zwecke Anforderungen Modulares Design, bekannt als Plug-and-Play-Komponenten, ermöglicht es dem Bediener, genau Diffraktometer-entsprechende Anbaugeräte zu verwenden, ohne dass ein optisches System berechnet werden muss.

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerMulti-Function Diffraction Analysis Xrd DiffractometerKonverter für optisches System
Sola Spaltstruktur kann geändert werden, ohne Sola Spaltkörper auseinanderzunehmen. Aufgrund dieses Charakters kann das Instrument, ohne neu justieren zu müssen, den Konverter zwischen optischem Fokussystem und horizontalem optischem System erreichen.

Die Datenverarbeitungssoftware umfasst die folgenden Funktionen

Grundlegende Datenverarbeitungsfunktionen (Peak-Suche, Glättung, Hintergrundsubtraktion, Peak-Formanpassung, Peak-Formvergrößerung, Spektrenvergleich, K α 1, α 2 Stripping, Indizierung von Beugungslinien);
Schnelle quantitative Analyse von Proben ohne Standard
Messung der Kristallgröße
Kristallstrukturanalyse (Kristallzellparameter Messung und Verfeinerung)
Makroskopische Spannungsmessungen und mikroskopische Spannungen
Zweidimensionale und dreidimensionale Darstellung mehrerer Zeichnungen
Cluster-Analyse von DiffraktionsPeak-Zeichnungen
Die Kalibrierungskurve für die halbe Spitzenbreite der Beugungsdaten
Die Korrekturkurve für Winkelabweichung der Abweichungsdaten
Rietveld basierte konventionelle quantitative Analyse
Verwenden Sie lCDD-Datenbank oder Benutzerdatenbank, um die qualitative Phase durchzuführen Analyse
Verwenden Sie die ICDD-Datenbank oder die ICSD-Datenbank, um quantitative Analysen durchzuführen
 

Multi-Function Diffraction Analysis Xrd Diffractometer

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